DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Hledat 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Ekonomická fakulta / Faculty of Economics (EKF)
  • 157 - Katedra systémového inženýrství / Department of System Engineering
  • Publikační činnost Katedry systémového inženýrství / Publications of Department of System Engineering (157)
  • Hledat
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Ekonomická fakulta / Faculty of Economics (EKF)
  • 157 - Katedra systémového inženýrství / Department of System Engineering
  • Publikační činnost Katedry systémového inženýrství / Publications of Department of System Engineering (157)
  • Hledat
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Hledat

Skrýt pokročilé filtryZobrazit pokročilé filtry

Filtry

Filtry použijte na upřesnění výsledků vyhledávání.

Zobrazují se záznamy 1-2 z 2

  • Možnosti řazení:
  • Relevance
  • Název vzestupně
  • Název sestupně
  • Datum vydání vzestupně
  • Datum vydání sestupně
  • Datum zaslání vzestupně
  • Datum zaslání sestupně
  • Výsledků na stránku:
  • 5
  • 10
  • 20
  • 40
  • 60
  • 80
  • 100

Costs of quality or quality costs 

Řeháček, Petr (International Journal of Advanced and Applied Sciences. 2018, vol. 5, issue 2, p. 8-13.)

Risk management standards for project management 

Řeháček, Petr (International Journal of Advanced and Applied Sciences. 2017, vol. 4, issue 6, p. 1-13.)

VŠB-TUO copyright © 2006-2018 
DSpace software copyright © 2002-2018 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

Filtrování

Autor, vedoucí práceŘeháček, Petr (2)Datum vydání2018 (1)2017 (1)Klíčové slovomanagement (2)analysis (1)calculation (1)cost (1)project (1)quality (1)risk (1)... zobrazit dalšíTyp dokumentuarticle (2)Zdrojový dokument
International Journal of Advanced and Applied Sciences (2)
VydavatelInstitute of Advanced Science Extension (2)Plný textopenAccess (2)

VŠB-TUO copyright © 2006-2018 
DSpace software copyright © 2002-2018 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV