Show simple item record

dc.contributor.advisorTokarský, Jonášcs
dc.contributor.authorVilímová, Petracs
dc.date.accessioned2014-08-05T10:33:43Z
dc.date.available2014-08-05T10:33:43Z
dc.date.issued2014cs
dc.identifier.otherOSD002cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/105178
dc.descriptionImport 05/08/2014cs
dc.description.abstractDiplomová práce popisuje přípravu polyanilinových (PANI) vrstev na skleněném substrátu přichystaných in-situ polymerizací anilinu smícháním dvou reakčních roztoků a jejich následnou charakterizaci mikroskopií atomárních sil (AFM). V závislosti na době setrvání skleněného substrátu v reakční směsi byla pomocí AFM určena morfologie, drsnost, a tloušťka vytvořených vrstev a taktéž měřena jejich adheze ke zlatu a křemíku. Díky této mikroskopické technice lze velmi dobře pozorovat jednotlivé kroky při vytváření samotných PANI tenkých vrstev, tj. růst a zaoblování zrn, zaplňování mezer mezi nimi a tvorba souvislého filmu. Jak charakterizace samotného povrchu PANI vrstev, tak určení adheze neboli přilnavosti k různým materiálům má velký vliv pro jejich další využití a aplikace.cs
dc.description.abstractThis thesis describes the preparation of polyaniline (PANI) thin layers prepared on the glass substrate by in-situ polymerization of aniline by mixing two solutions and characterization of such prepared films by atomic force microscopy (AFM). Depending on the deposition time (i.e. the immersion of the glass slide in the reaction mixture), morphology, surface roughness and thickness of the formed layers were determined by AFM. Adhesion to gold and silicon was also measured. Using this microscopic technique the single steps of creating the PANI thin layers, i.e. growth and rounding of grains, filling gaps between them and the formation of a continuous film can be very well observed. Surface characterization of PANI layers as well as the determination of their adhesion, has a great influence on their further use and application.en
dc.format.extent4551634 bytescs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravacs
dc.subjectvodivé polymerycs
dc.subjectpolyanilincs
dc.subjecttenké vrstvycs
dc.subjectmikroskopie atomárních silcs
dc.subjectconducting polymersen
dc.subjectpolyanilineen
dc.subjectthin layersen
dc.subjectatomic force microscopyen
dc.titlePříprava polyanilinových vrstev na skle a jejich charakterizace pomocí mikroskopie atomárních silcs
dc.title.alternativePreparation of polyaniline thin films on glass substrates and thein characterization using atomic force microscopyen
dc.typeDiplomová prácecs
dc.contributor.refereeKulhánková, Lenkacs
dc.date.accepted2014-06-11cs
dc.thesis.degree-nameIng.cs
dc.thesis.degree-levelMagisterský studijní programcs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Univerzitní studijní programycs
dc.description.department9360 - Centrum nanotechnologiícs
dc.thesis.degree-programNanotechnologiecs
dc.thesis.degree-branchNanotechnologiecs
dc.description.resultvýborněcs
dc.identifier.senderS2790cs
dc.identifier.thesisVIL0012_USP_N3942_3942T001_2014
dc.rights.accessopenAccess


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record