DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Systémové řízení BOZP jako základ efektivního řízení bezpečnostních rizik v podniku

Title alternative
OSH System Management as Basis of Effective Management of Safety Risks in a Company
View/Open
CHY0030_FBI_B3908_3908R001_2015.pdf (1.825Mb)
Posudek vedoucího – Vala, Jiří (93.78Kb)
Posudek oponenta – Machnik, Vojtěch (1.181Mb)
Author
Chyla, Adam
Advisor
Vala, Jiří
Date
2015
Type
Bakalářská práce
Metadata
Show full item record
Degree program
Požární ochrana a průmyslová bezpečnost
Degree branch
Bezpečnost práce a procesů
Degree grantor
Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta bezpečnostního inženýrství
Rights access
openAccess
Description
Import 23/07/2015
URI
http://hdl.handle.net/10084/110082
Collections
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI) [5882]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV