DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Analýza psychické zátěže a stresu v pracovních podmínkách České pošty

Title alternative
Analysis of Mental Strain and Stress in the Working Conditions of the Czech Post
View/Open
KAW039_FBI_N3908_3908T002_2017.pdf (1.568Mb)
KAW039_FBI_N3908_3908T002_2017_priloha.pdf (483.9Kb)
Posudek vedoucího – Dlugoš, Ivan (361.7Kb)
Posudek oponenta – Trpiš, Jakub (436.9Kb)
Author
Kawulok, Karel
Advisor
Dlugoš, Ivan
Date
2017
Type
Diplomová práce
Metadata
Show full item record
Degree program
Požární ochrana a průmyslová bezpečnost
Degree branch
Bezpečnostní inženýrství
Degree grantor
Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta bezpečnostního inženýrství
Rights access
openAccess
URI
http://hdl.handle.net/10084/118528
Collections
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI) [5882]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV