DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Identifikace, analýza a hodnocení rizik na výrobní lince svařovny

Další název
Identification, analysis and risk assessment of the welding plant production line
Zobrazit/otevřít
Text práce (1.915Mb)
Zadání (80.42Kb)
Příloha (466.7Kb)
Posudek vedoucího – Lepík, Petr (149.0Kb)
Posudek oponenta – Roupcová, Petra (149.3Kb)
Autor
Musil, Lukáš
Vedoucí práce
Lepík, Petr
Datum vydání
2023
Typ dokumentu
Diplomová práce
Metadata
Zobrazit celý záznam
Studijní program
Bezpečnostní inženýrství
Instituce přidělující titul
Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta bezpečnostního inženýrství
Přístupová práva
openAccess
URI
http://hdl.handle.net/10084/149902
Kolekce
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI) [5882]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV