DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta materiálově-technologická / Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty materiálově-technologické / Theses and dissertations of Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta materiálově-technologická / Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty materiálově-technologické / Theses and dissertations of Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Využití aktivní termografie pro diagnostiku vnitřních vad a struktury materiálů

Title alternative
The use of active thermography for the diagnosis of internal defects and the structure of materials
View/Open
Text práce (10.65Mb)
Zadání (91.77Kb)
Posudek vedoucího – Machů, Mario (147.9Kb)
Posudek oponenta – Kotásek, Ondřej (145.0Kb)
Author
Radek, Filip
Advisor
Machů, Mario
Date
2023
Type
Diplomová práce
Metadata
Show full item record
Degree program
Materiály a technologie pro energetiku
Degree grantor
Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta materiálově-technologická
Rights access
openAccess
URI
http://hdl.handle.net/10084/150517
Collections
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty materiálově-technologické / Theses and dissertations of Faculty of Materials Science and Technology (FMT) [11285]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV