DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Characteristics of allowable axial cracks for pressurized pipes governed by limit load criteria

Autor
Hasegawa, Kunio
Li, Yinsheng
Udyawar, Anees
Lacroix, Valéry
Datum vydání
2023
Typ dokumentu
article
ISSN
0308-0161
1879-3541
Metadata
Zobrazit celý záznam
Citace zdrojového dokumentu
International Journal of Pressure Vessels and Piping. 2023, vol. 204, art. no. 104952.
Dostupné na
https://doi.org/10.1016/j.ijpvp.2023.104952
Práva
© 2023 Elsevier Ltd. All rights reserved.
URI
http://hdl.handle.net/10084/151964
Kolekce
  • Články z časopisů s impakt faktorem / Articles from Impact Factor Journals [6377]
  • Publikační činnost Centra pokročilých inovačních technologií / Publications of Centre for Advanced Innovation Technologies (660) [178]
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science [7798]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV