DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Effects of microstructural changes on mechanical properties of cold rolled and annealed strips from S420 MC and S500 MC microalloyed steels

Author
Janošec, Marcel
Schindler, Ivo
Vodárek, Vlastimil
Palát, Jaroslav
Legerski, Miroslav
Místecký, Emerich
Růžička, Martin
Date
2008
Type
article
Location
Ve fondu ÚK
ISSN
1611-3683
Metadata
Show full item record
Citation source document
Steel Research International. 2008, vol. 79, sp. issue 2, p. 195-202.
URI
http://hdl.handle.net/10084/76089
Collections
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science [7798]
  • Publikační činnost Katedry tváření materiálu / Publications of Department of Materials Forming (633) [136]
  • Publikační činnost Katedry materiálového inženýrství / Publications of Department of Material Engineering (636) [140]
  • Články z časopisů s impakt faktorem / Articles from Impact Factor Journals [6377]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV