DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta elektrotechniky a informatiky / Faculty of Electrical Engineering and Computer Science (FEI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty elektrotechniky a informatiky / Theses and dissertations of Faculty of Electrical Engineering and Computer Science (FEI)
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta elektrotechniky a informatiky / Faculty of Electrical Engineering and Computer Science (FEI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty elektrotechniky a informatiky / Theses and dissertations of Faculty of Electrical Engineering and Computer Science (FEI)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Realizace měřícího pracoviště pro měření životnosti kontaktů nn

Title alternative
Realizotion measuring system of contacts
View/Open
VAN354_FEI_B2645_2608R004_2010.pdf (1.101Mb)
VAN354_FEI_B2645_2608R004_2010_zadani.pdf (947.9Kb)
Author
Vanda, Martin
Advisor
Hytka, Zdeněk
Date
2010
Type
Bakalářská práce
Metadata
Show full item record
Degree program
Elektrotechnika, sdělovací a výpočetní technika
Degree branch
Komerční elektrotechnika
Degree grantor
Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatiky
Rights access
openAccess
Description
Import 29/09/2010
URI
http://hdl.handle.net/10084/78843
Collections
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty elektrotechniky a informatiky / Theses and dissertations of Faculty of Electrical Engineering and Computer Science (FEI) [13253]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV