DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Bezpečnostní aspekty nanomateriálů se zaměřením na fulleren C60

Title alternative
Safety Aspects of Nanomaterials with a Focus on Fullerene C60
View/Open
BER0035_FBI_P3908_3908V009_2012.pdf (4.414Mb)
BER0035_FBI_P3908_3908V009_2012_autoreferat.pdf (400.6Kb)
Author
Zemanová, Eva
Advisor
Klouda, Karel
Date
2012
Type
Disertační práce
Location
ÚK/Sklad diplomových prací
Signature
201300645
Metadata
Show full item record
Degree program
Požární ochrana a průmyslová bezpečnost
Degree branch
Požární ochrana a bezpečnost
Degree grantor
Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta bezpečnostního inženýrství
Rights access
openAccess
Description
Import 30/10/2012
URI
http://hdl.handle.net/10084/95637
Collections
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI) [5882]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV