DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Zhodnocení aplikací postupů vyluhovatelnosti Zn, Cd, Pb, Cr pro jemnozrnné metalurgické kaly

Title alternative
Evaluation of leaching procedures for Zn, Cd, Pb, Cr from fine metallurgical sludges
View/Open
publishedVersion (256.7Kb)
Author
Gabor, Roman
Seidlerová, Jana
Date
2012
Type
article
Location
Není ve fondu ÚK
ISSN
0009-2770
1213-7103
Type version
publishedVersion
Metadata
Show full item record
Citation source document
Chemické listy. 2012, roč. 106, č. 8, s. 773-776.
Available at
http://www.chemicke-listy.cz/docs/full/2012_08_773-776.pdf
Rights access
openAccess
URI
http://hdl.handle.net/10084/96197
Collections
  • Články z časopisů s impakt faktorem / Articles from Impact Factor Journals [6377]
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science [7798]
  • Publikační činnost Centra nanotechnologií / Publications of Nanotechnology Centre (9360) [790]
  • OpenAIRE [5085]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV