Phase retrieval from the spectral interference signal used to measure thickness of SiO2 thin film on silicon wafer

DSpace/Manakin Repository

aaK citaci nebo jako odkaz na tento záznam použijte identifikátor: http://hdl.handle.net/10084/63507

Title:	Phase retrieval from the spectral interference signal used to measure thickness of SiO2 thin film on silicon wafer
Author:	Hlubina, Petr Ciprian, Dalibor Luňáček, Jiří Chlebus, Radek
Date issue:	2007
Citation:	Applied physics. B, Lasers and optics. 2007, vol. 88, no. 3, p. 397-403.
URI:	http://hdl.handle.net/10084/63507
ISSN:	0946-2171 1432-0649
DOI:	10.1007/s00340-007-2709-4
URI:	http://dx.doi.org/10.1007/s00340-007-2709-4
Type:	Article
Počet citací dokumentu:

Files	Size	Format	View
There are no files associated with this item.

Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO [1667]
Kolekce obsahuje bibliografické záznamy publikační činnosti (článků) akademických pracovníků VŠB-TUO v časopisech (a v Lecture Notes in Computer Science) registrovaných ve Web of Science od roku 1990 po současnost.
Publikační činnost Institutu fyziky / Publications of Institute of Physics (516) [194]
Kolekce obsahuje bibliografické záznamy publikační činnosti (článků) akademických pracovníků Institutu fyziky (516) v časopisech registrovaných ve Web of Science od roku 2003 po současnost.