Simple method for determination of the thickness of a nonabsorbing thin film using spectral reflectance measurement

DSpace/Manakin Repository

aaK citaci nebo jako odkaz na tento záznam použijte identifikátor: http://hdl.handle.net/10084/71252

Title:	Simple method for determination of the thickness of a nonabsorbing thin film using spectral reflectance measurement
Author:	Luňáček, Jiří Hlubina, Petr Luňáčková, Milena
Date issue:	2009
Citation:	Applied optics. 2009, vol. 48, issue 5, p. 985-989.
URI:	http://hdl.handle.net/10084/71252
ISSN:	0003-6935 1539-4522
DOI:	10.1364/AO.48.000985
URI:	http://dx.doi.org/10.1364/AO.48.000985
Type:	Article
Počet citací dokumentu:

Files	Size	Format	View
There are no files associated with this item.

Applied Optics [3]
Vydavatel: Optical Society of America; ISSN: 0003-6935 (print); ISSN: 1539-4522 (online); Impact factor: 1.703 (2010 JCR Science Edition)
Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO [1643]
Kolekce obsahuje bibliografické záznamy publikační činnosti (článků) akademických pracovníků VŠB-TUO v časopisech (a v Lecture Notes in Computer Science) registrovaných ve Web of Science od roku 1990 po současnost.
Publikační činnost Institutu fyziky / Publications of Institute of Physics (516) [191]
Kolekce obsahuje bibliografické záznamy publikační činnosti (článků) akademických pracovníků Institutu fyziky (516) v časopisech registrovaných ve Web of Science od roku 2003 po současnost.
Publikační činnost Katedry matematiky a deskriptivní geometrie / Publications of Department of Mathematics and Descriptive Geometry (714) [38]
Kolekce obsahuje bibliografické záznamy publikační činnosti (článků) akademických pracovníků Katedry matematiky a deskriptivní geometrie (714) v časopisech registrovaných ve Web of Science od roku 2003 po současnost.