Spolehlivost programového vybavení pro obvody vysoké integrace a obvody velmi vysoké integrace

DSpace/Manakin Repository

aaK citaci nebo jako odkaz na tento záznam použijte identifikátor: http://hdl.handle.net/10084/84177

Show simple item record


dc.contributor.author Ganiyev, Artem
dc.contributor.author Vitásek, Jan
dc.date.accessioned 2011-02-09T06:52:35Z
dc.date.available 2011-02-09T06:52:35Z
dc.date.issued 2010
dc.identifier.citation Advances in electrical and electronic engineering. 2010. vol. 8, no. 2, p. 48-53. en
dc.identifier.issn 1804-3119
dc.identifier.uri http://hdl.handle.net/10084/84177
dc.description.abstract Článek se zabývá zpracováním metodiky hodnocení bezporuchovosti obvodů vysoké integrace (LSI) a velmi vysoké integrace (VLSI). V článku je provedena srovnávací analýza faktorů určujících bezporuchovost integrovaných obvodů, analýza existujících metodik a modelu hodnocení bezporuchové činnosti obvodů vysoké integrace a velmi vysoké integrace. Stěžejní částí článku je popis navrženého algoritmu a programu pro analýzu poruchovosti obvodů vysoké integrace a velmi vysoké integrace. en
dc.format.extent 199656 bytes cs
dc.format.mimetype application/pdf cs
dc.language.iso cs en
dc.publisher Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava en
dc.relation.ispartofseries Advances in electrical and electronic engineering en
dc.relation.uri http://advances.utc.sk/index.php/AEEE en
dc.rights Creative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)
dc.rights © Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
dc.title Spolehlivost programového vybavení pro obvody vysoké integrace a obvody velmi vysoké integrace en
dc.title.alternative The software reliability of large scale integration circuit and very large scale integration circuit en
dc.type article en
dc.description.abstract-en This article describes evaluation method of faultless function of large scale integration circuits (LSI) and very large scale integration circuits (VLSI). In the article there is a comparative analysis of factors which determine faultless of integrated circuits, analysis of already existing methods and model of faultless function evaluation of LSI and VLSI. The main part describes a proposed algorithm and program for analysis of fault rate in LSI and VLSI circuits. en
dc.rights.access openAccess cs
dc.type.version publishedVersion cs
dc.type.status Peer-reviewed cs

Files in this item

Files Size Format View
AEEE-2010-8-2-48-ganiyev.pdf 194.9Kb PDF View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Search DSpace


Advanced Search

Navigation

Browse

My Account

Statistics