Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.authorGaniyev, Artem
dc.contributor.authorVitásek, Jan
dc.date.accessioned2011-02-09T06:52:35Z
dc.date.available2011-02-09T06:52:35Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationAdvances in electrical and electronic engineering. 2010. vol. 8, no. 2, p. 48-53.en
dc.identifier.issn1804-3119
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/84177
dc.description.abstractČlánek se zabývá zpracováním metodiky hodnocení bezporuchovosti obvodů vysoké integrace (LSI) a velmi vysoké integrace (VLSI). V článku je provedena srovnávací analýza faktorů určujících bezporuchovost integrovaných obvodů, analýza existujících metodik a modelu hodnocení bezporuchové činnosti obvodů vysoké integrace a velmi vysoké integrace. Stěžejní částí článku je popis navrženého algoritmu a programu pro analýzu poruchovosti obvodů vysoké integrace a velmi vysoké integrace.en
dc.format.extent199656 bytescs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.language.isocsen
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravaen
dc.relation.ispartofseriesAdvances in electrical and electronic engineeringen
dc.relation.urihttp://advances.utc.sk/index.php/AEEEen
dc.rightsCreative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)
dc.rights© Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
dc.titleSpolehlivost programového vybavení pro obvody vysoké integrace a obvody velmi vysoké integraceen
dc.title.alternativeThe software reliability of large scale integration circuit and very large scale integration circuiten
dc.typearticleen
dc.description.abstract-enThis article describes evaluation method of faultless function of large scale integration circuits (LSI) and very large scale integration circuits (VLSI). In the article there is a comparative analysis of factors which determine faultless of integrated circuits, analysis of already existing methods and model of faultless function evaluation of LSI and VLSI. The main part describes a proposed algorithm and program for analysis of fault rate in LSI and VLSI circuits.en
dc.rights.accessopenAccesscs
dc.type.versionpublishedVersioncs
dc.type.statusPeer-reviewedcs


Soubory tohoto záznamu

Thumbnail

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

  • AEEE. 2010, vol. 8 [25]
  • OpenAIRE [2051]
    Kolekce určená pro sklízení infrastrukturou OpenAIRE; obsahuje otevřeně přístupné publikace, případně další publikace, které jsou výsledkem projektů rámcových programů Evropské komise (7. RP, H2020).

Zobrazit minimální záznam

Creative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)
Kromě případů, kde je uvedeno jinak, licence tohoto záznamu je Creative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)