DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzitní studijní programy / University Study Programmes
  • Vysokoškolské kvalifikační práce univerzitních studijních programů / Theses and dissertations of University Study Programmes
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzitní studijní programy / University Study Programmes
  • Vysokoškolské kvalifikační práce univerzitních studijních programů / Theses and dissertations of University Study Programmes
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Příprava a vlastnosti nanostruktur po řízeném vakuovém vymrazování

Další název
Preparation and properties of nanostructures after controlled vacuum freeze drying
Zobrazit/otevřít
FEN0009_USP_B3942_3942R001_2014.pdf (6.411Mb)
Posudek vedoucího – Dvorský, Richard (31.13Kb)
Posudek oponenta – Luňáček, Jiří (54.25Kb)
Autor
Fenclová, Taťána
Vedoucí práce
Dvorský, Richard
Datum vydání
2014
Typ dokumentu
Bakalářská práce
Metadata
Zobrazit celý záznam
Studijní program
Nanotechnologie
Studijní obor
Nanotechnologie
Instituce přidělující titul
Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Univerzitní studijní programy
Přístupová práva
openAccess
Poznámka
Import 05/08/2014
URI
http://hdl.handle.net/10084/105196
Kolekce
  • Vysokoškolské kvalifikační práce univerzitních studijních programů / Theses and dissertations of University Study Programmes [354]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV