dc.contributor.advisor | Hamrle, Jaroslav | cs |
dc.contributor.author | Havlíček, Jakub | cs |
dc.date.accessioned | 2015-07-22T09:23:53Z | |
dc.date.available | 2015-07-22T09:23:53Z | |
dc.date.issued | 2015 | cs |
dc.identifier.other | OSD002 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/109847 | |
dc.description | Import 23/07/2015 | cs |
dc.description.abstract | In this thesis the optical properties of ferroelectric materials are studied. The study originates from cooperation with Tokyo University of Science and work group of prof. Soichiro Okamura which made and provided the samples.
The PZT Pb[Zr0.44 Ti0.56 ]O3 (lead zirconate titanate oxide) is our subject of investigation. The optical properties of sample are studied by spectroscopic ellipsometry. The modification of current experimental equipment to allow measurement in external electric field is part of the thesis. The results summarize the response of the sample on applied external electric field. The theoretical part mainly deals with mathematical description of electrooptics and the restriction of the symmetry of the permittivity tensor restriction in external electric field. The polarized state of light and basics of the ellipsometry are described as well. | en |
dc.description.abstract | Tato práce se zabývá studiem optických vlastností ferroelektrických materiálů. Vznikla ve spolupráci s prof. Soichiro Okamurou z Tokyo University of Science a jeho pracovní skupinou, která připravila a poskytla vzorky. Zkoumaným vzrokem je PZT Pb[Zr 0.44 Ti 0.56 ]O 3 , keramický materiál oxidu sloučeniny olova zirkonu a titanu. Optické vlastnosti vzroku jsou studovány metodou spektroskopické elipsometrie. Součástí práce je modifikace spektroskopického zařízení pro měření v elektrickém poli. Výsledky shrnují odezvu optických vlastností vzorku na změnu vnějšího elektrického pole. Teoretická část se zabývá zejména teoretickým popisem elektrooptiky a narušení symetrie tenzoru permitivity v elektrickém poli. Je v ní také zahrnut popis polarizovaného stavu světla a základy elipsometrického měření. | cs |
dc.format.extent | 3799817 bytes | cs |
dc.format.mimetype | application/octetstream | cs |
dc.language.iso | en | cs |
dc.publisher | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava | cs |
dc.subject | Electrooptics, ferroelectrics, PZT, ellipsometry, polarized light | en |
dc.subject | Elektrooptika, ferroelektrika, PZT, elipsometrie, polarizované světlo | cs |
dc.title | Optical study of ferroelectric materials | en |
dc.title.alternative | Optické studium ferroelektrických materiálů | cs |
dc.type | Diplomová práce | cs |
dc.contributor.referee | Veis, Martin | cs |
dc.date.accepted | 2015-06-11 | cs |
dc.thesis.degree-name | Ing. | cs |
dc.thesis.degree-level | Magisterský studijní program | cs |
dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Univerzitní studijní programy | cs |
dc.description.department | 9360 - Centrum nanotechnologií | cs |
dc.thesis.degree-program | Nanotechnologie | cs |
dc.thesis.degree-branch | Nanotechnologie | cs |
dc.description.result | výborně | cs |
dc.identifier.sender | S2790 | cs |
dc.identifier.thesis | HAV0063_USP_N3942_3942T001_2015 | |
dc.rights.access | openAccess | |