Pozorování magnetických domén metodami magneto-optické Kerrovy mikroskopie a mikroskopie magnetických sil

Abstract

Bakalářská práce je věnována mikroskopii magnetických sil (MFM) a magnetooptické Kerrově mikroskopii (MOKM), metodám, které jsou v současné době často využívány k pozorování magnetických domén na površích magnetických materiálů. Obě metody jsou v práci detailně popsány s důrazem na jejich princip a konkrétní způsob získání magnetického kontrastu. Jsou také shrnuty jejich hlavní výhody a nevýhody. Praktická část práce zahrnuje ukázky magnetických domén pozorovaných na materiálech s širokým aplikačním využitím. Tvrdé magnetické materiály FeNbB(Tb, Dy) vykazují koercitivní pole až 8 T a jeví se jako slibné v oblasti permanentních magnetů. Dvouvrstvé amorfní pásky FeNbSiB/FeSiB připravené metodou rovinného lití jsou měkké magnetické materiály s hlavním uplatněním v senzorice. Co2FeSi Heuslerovy slitiny jsou vyrobeny metodou obloukového tavení ve formě ingotů a vykazují odlišné magnetické vlastnosti v porovnání s běžnými tenkými vrstvami stejného složení.

Bachelor work is devoted to the Magnetic Force Microscopy (MFM) and Magneto-Optical Kerr Microscopy (MOKM), i. e. to the methods that are currently often used for observations of magnetic domains on the surfaces of magnetic materials. Both methods are described in details with emphasis on their principle and concrete way how to obtain the magnetic contrast. Work also summarizes their main advantages and disadvantages. Practical part of work includes examples of magnetic domain patterns observed on materials with broad application potential. Hard magnetic materials FeNbB(Tb, Dy) exhibit the coercive field up to 8 T and seem to be promising in the area of hard magnetic materials. Bilayered amorphous ribbons FeNbSiB/FeSiB prepared by planar flow casting process are soft magnetic materials with main applications in sensorics. Co2FeSi Heusler compounds are prepared by arc melting process in the form of ingots having different magnetic properties in comparison to the thin film samples of the same composition.