dc.contributor.advisor | Mamulová Kutláková, Kateřina | |
dc.contributor.author | Herman, Lukáš | |
dc.date.accessioned | 2018-06-26T08:17:49Z | |
dc.date.available | 2018-06-26T08:17:49Z | |
dc.date.issued | 2018 | |
dc.identifier.other | OSD002 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/130297 | |
dc.description.abstract | Diplomová práce je zaměřena na teoretické i praktické využití Rietveldovi metody. Rietveldova metoda kvantitativní fázové analýzy efektivně řeší problém práškových difrakčních technik – překrývající se píky. V úvodu je představena kinematická teorie rentgenové difrakce, která je pro pochopení Rietveldovi metody stěžejní. Dále je práce zaměřena na matematický základ samotné metody. Praktická část diplomové práce je věnována názorným příkladům zpřesňování struktur za pomocí strukturních vstupů formou uživatelského manuálu. V závěru diplomové práce je uveden popis podrobného zpřesňování krystalografické struktury kaolinit/ZnS za pomocí softwaru Diffrac Topas. | cs |
dc.description.abstract | This diploma thesis focuses on familiarization with the Rietveld method of quantitative phase analysis, which solves the biggest issue of powder diffraction – overlapping peaks. First part of thesis shows kinematic theory of x-ray diffraction, which is essential for understanding Rietveld method. Next part of thesis will focus on mathematical background for the method. Practical part of this thesis consists of examples of refinementing structures in the form of user manual. Final part will be focused on very detailed refinement of Kaolinite Zn/S with the use of software Diffrac Topas. | en |
dc.format.extent | 5031667 bytes | |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | cs | |
dc.publisher | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava | cs |
dc.subject | Rietveldova metoda, rentgenová difrakce, TOPAS, Sulfid zinečnatý. | cs |
dc.subject | Rietveld Method, x-ray diffraction, TOPAS, ZnS. | en |
dc.title | Rietveldova metoda kvantitativní fázové analýzy a její využití v praxi | cs |
dc.title.alternative | Rietveld method of quantitative phase analysis and its practical usage | en |
dc.type | Diplomová práce | cs |
dc.contributor.referee | Kupková, Jana | |
dc.date.accepted | 2018-06-13 | |
dc.thesis.degree-name | Ing. | |
dc.thesis.degree-level | Magisterský studijní program | cs |
dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Univerzitní studijní programy | cs |
dc.description.department | 9360 - Centrum nanotechnologií | cs |
dc.thesis.degree-program | Nanotechnologie | cs |
dc.thesis.degree-branch | Nanotechnologie | cs |
dc.description.result | výborně | cs |
dc.identifier.sender | S2790 | |
dc.identifier.thesis | HER0095_USP_N3942_3942T001_2018 | |
dc.rights.access | openAccess | |