| dc.contributor.advisor | Vašínek, Vladimír | |
| dc.contributor.author | Polášek, Roman | |
| dc.date.accessioned | 2019-06-04T07:18:01Z | |
| dc.date.available | 2019-06-04T07:18:01Z | |
| dc.date.issued | 1990 | |
| dc.identifier.other | OSD002 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/135157 | |
| dc.format | 60 listů : ilustrace + 2 přílohy | cs |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.title | Metody analýzy a kontroly materiálu mikroelektronických senzorů a prvků integrované optiky | cs |
| dc.type | Diplomová práce | cs |
| dc.identifier.signature | 33101/5475 | cs |
| dc.identifier.location | ÚK/Sklad diplomových prací | cs |
| dc.thesis.degree-name | Ing. | cs |
| dc.thesis.degree-level | Magisterský | cs |
| dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatiky | cs |
| dc.description.category | Prezenční | cs |
| dc.description.department | Katedra elektroniky a elektrických pohonů | cs |
| dc.thesis.degree-program | Neuvedeno | cs |
| dc.thesis.degree-branch | Mikrotechnologie | cs |
| dc.description.result | Neuvedeno | cs |