dc.contributor.advisor | Jeřábek, Vojtěch | |
dc.contributor.author | Jirout, Pavel | |
dc.date.accessioned | 2019-07-16T11:17:30Z | |
dc.date.available | 2019-07-16T11:17:30Z | |
dc.date.issued | 1989 | |
dc.identifier.other | OSD002 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/137772 | |
dc.format | 57, [17] listů : ilustrace | cs |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.title | Stanovení vlivu nečistot na kvalitu HIO v průběhu technologického procesu | cs |
dc.type | Diplomová práce | cs |
dc.identifier.signature | 33101/5183 | cs |
dc.identifier.location | ÚK/Sklad diplomových prací | cs |
dc.thesis.degree-name | Ing. | cs |
dc.thesis.degree-level | Magisterský | cs |
dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatiky | cs |
dc.description.category | Prezenční | cs |
dc.description.department | Katedra elektroniky a elektrických pohonů | cs |
dc.thesis.degree-program | Neuvedeno | cs |
dc.thesis.degree-branch | Mikrotechnologie | cs |
dc.description.result | Neuvedeno | cs |