Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.advisorHlubina, Petr
dc.contributor.authorChylek, Jakub
dc.date.accessioned2020-07-20T12:05:27Z
dc.date.available2020-07-20T12:05:27Z
dc.date.issued2020
dc.identifier.otherOSD002
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/140361
dc.description.abstractDiplomová práce je zaměřena na charakterizaci materiálů v plazmonické struktuře s využitím jevu povrchové plazmonové rezonance (SPR) v Kretschmannově uspořádání. Součástí práce jsou elipsometrická měření, která slouží k určení optických charakteristik vrstev plazmonické struktury. Na základě této charakterizace je vytvořen teoretický model, který využívá simulace metodou konečných prvků (FEM) v softwaru COMSOL Multiphysics. V rámci této práce byla provedena také měření spektrálních závislostí poměrů odrazivostí a spektrálních fázových posuvů pro více úhlů dopadu pro analyty vzduch/voda. Experimentální výsledky jsou následně porovnány s výsledky teoretického modelu. Na základě porovnání těchto výsledků, které vykazují dobrou shodu, je pak diskutováno využití tohoto způsobu charakterizace pro měření disperze analytů.cs
dc.description.abstractThis thesis is focused on characterization of materials in plasmonic structure using surface plasmon resonance (SPR) in the Kretschmann configuration. Part of this work deals with elipsometric measurements, which are used to determine optical characteristics of individual layers of the plasmonic structure. Based on these optical characteristics a theoretical model is build, followed by simulations using a finite element method (FEM) in software COMSOL Multiphysics. In this work, the spectral phase shift and spectral dependence of the reflectance ratio are measured for various angles of incidence for analytes air/water. Experimental results are afterwards compared with theoretical model. Based on these results, which are in good agreement with theory, usage of this method of characterization for measurement of disperision properties of analytes is further discussed.en
dc.format.extent17667726 bytes
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isocs
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravacs
dc.subjectpovrchová plazmonová rezonancecs
dc.subjectKretschmannovo uspořádánícs
dc.subjectelipsometriecs
dc.subjectmetoda konečných prvkůcs
dc.subjectCOMSOL Multiphysicscs
dc.subjectfázový posuvcs
dc.subjectodrazivostcs
dc.subjectdisperzecs
dc.subjectanalytcs
dc.subjectvodacs
dc.subjectsurface plasmon resonanceen
dc.subjectKretschmann configurationen
dc.subjectelipsometryen
dc.subjectfinite element methoden
dc.subjectCOMSOL Multiphysicsen
dc.subjectphase differenceen
dc.subjectreflectivityen
dc.subjectdispersionen
dc.subjectanalyteen
dc.subjectwateren
dc.titlePovrchová plazmonová rezonance a disperzní charakterizace vrstev a analytůcs
dc.title.alternativeSurface plasmon resonance and dispersion characterization of films and analytesen
dc.typeDiplomová prácecs
dc.contributor.refereeRichter, Ivan
dc.date.accepted2020-06-22
dc.thesis.degree-nameIng.
dc.thesis.degree-levelMagisterský studijní programcs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatikycs
dc.description.department480 - Katedra fyzikycs
dc.thesis.degree-programAplikovaná fyzikacs
dc.description.resultvýborněcs
dc.identifier.senderS2724
dc.identifier.thesisCHY0058_FEI_N0533A110006_2020
dc.rights.accessopenAccess


Soubory tohoto záznamu

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam