DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta materiálově-technologická / Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty materiálově-technologické / Theses and dissertations of Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta materiálově-technologická / Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty materiálově-technologické / Theses and dissertations of Faculty of Materials Science and Technology (FMT)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Využití rastrovací elektronové mikroskopie v oblasti strukturně fázové analýzy Ni-superslitin

Title alternative
Use of scanning electron microscopy in structural and phase analysis of Ni-superalloys
View/Open
Text práce (7.340Mb)
Zadání (45.68Kb)
Posudek vedoucího – Konečná, Kateřina (56.07Kb)
Posudek oponenta – Čegan, Tomáš (58.41Kb)
Author
Liška, Ondřej
Advisor
Konečná, Kateřina
Date
2022
Type
Bakalářská práce
Metadata
Show full item record
Degree program
Materiálové inženýrství
Degree grantor
Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta materiálově-technologická
Rights access
openAccess
URI
http://hdl.handle.net/10084/147679
Collections
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty materiálově-technologické / Theses and dissertations of Faculty of Materials Science and Technology (FMT) [11285]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV