Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.advisorKohut, Tomáš
dc.contributor.authorToběrný, Jakub
dc.date.accessioned2023-06-23T08:46:22Z
dc.date.available2023-06-23T08:46:22Z
dc.date.issued2023
dc.identifier.otherOSD002
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/150449
dc.description.abstractVarious types of micro-structures can be prepared using direct writing laser lithography. The majority of these structures are optical diffractive components, which are in high demand. However, implementation of the desired structure size and shape may be problematic due to the different non-linear responses of different types of photoresists to the exposure dose. Optimization of lithographic parameters and an understanding of photoresist chemistry is needed to solve these issues. To characterise the exposure process, the lithographic laser beam is approximated by the mathematical model of the Gaussian beam. Subsequently, the model is used to make a simulation of the real lithographic exposure with photoresist optical constants. By comparing the simulation with the measured data, the optical properties of the photoresist (such as beam divergence and absorption) can be described, and optimization of required parameters can be performed.en
dc.description.abstractRůzné typy mikrostruktur mohou být připraveny za použití laserové litografie s přímým zápisem. Většina těchto struktur jsou optické difrakční součástky, po kterých je velká poptávka. Realizace požadované velikosti a tvaru struktury může být však problematická z důvodu různé nelineární odezvy různých typů fotorezistů na expoziční dávku. Optimalizace litografických parametrů a pochopení chemie fotorezistu je klíčové k vyřešení těchto problémů. Pro charakterizaci expozičního procesu je litografický laserový svazek aproximován pomocí matematického modelu Gaussova svazku. Následně je tento model použit pro simulaci reálného litografického zápisu s optickými konstantami fotorezistu. Porovnáním simulace s naměřenými daty lze popsat optické vlastnosti fotorezistu (jako je divergence svazku a asborpce) a provést optimalizaci potřebných parametrů.cs
dc.format.extent7692667 bytes
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoen
dc.publisherVysoká škola báňská – Technická univerzita Ostravacs
dc.subjectlaser lithographyen
dc.subjectdirect writingen
dc.subjectpositive photoresisten
dc.subjectGaussian beamen
dc.subjectnumeric modellingen
dc.subjectabsorptionen
dc.subjectmicro-lensen
dc.subjectdiffraction gratingen
dc.subjectspin-coatingen
dc.subjectellipsometryen
dc.subjectconfocal microscopyen
dc.subjectatomic force microscopyen
dc.subjectlaserová litografiecs
dc.subjectpřímý zápiscs
dc.subjectpozitivní fotorezistcs
dc.subjectGaussův svazekcs
dc.subjectnumerické modelovánícs
dc.subjectabsorpcecs
dc.subjectmikročočkacs
dc.subjectdifrakční mřížkacs
dc.subjectspin-coatingcs
dc.subjectelipsometriecs
dc.subjectkonfokální mikroskopiecs
dc.subjectmikroskopie atomárních silcs
dc.titleLaser lithography – exposure of structure and modelling of Gaussian beam.en
dc.title.alternativeLaserová litografie – expozice struktur a modelování Gaussova svazkucs
dc.typeBakalářská prácecs
dc.contributor.refereeKotačka, Libor
dc.date.accepted2023-06-08
dc.thesis.degree-nameBc.
dc.thesis.degree-levelBakalářský studijní programcs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta materiálově-technologickács
dc.description.department651 - Katedra chemie a fyzikálně-chemických procesůcs
dc.thesis.degree-programNanotechnologiecs
dc.description.resultvýborněcs
dc.identifier.senderS2736
dc.identifier.thesisTOB0041_FMT_B0719A270001_2023
dc.rights.accessopenAccess


Soubory tohoto záznamu

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam