DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • English 
    • čeština
    • English
  • Login
View Item 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Fakulta bezpečnostního inženýrství / Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI)
  • View Item
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Studie mezigeneračního zapomnění extremistických názorů u vzniku druhé světové války

Title alternative
A Study of Intergenerational Forgetting of Extremist Views at the Origins of World War II
View/Open
Text práce (18.11Mb)
Zadání (125.5Kb)
Příloha (343.1Kb)
Posudek vedoucího – Plachý, Martin (142.3Kb)
Posudek oponenta – Beranová, Jarmila (142.7Kb)
Záznam o průběhu a výsledku obhajoby (62.50Kb)
Author
Demel, Karel
Advisor
Plachý, Martin
Date
2024
Type
Bakalářská práce
Metadata
Show full item record
Degree program
Technická bezpečnost osob a majetku
Degree grantor
Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta bezpečnostního inženýrství
Rights access
openAccess
URI
http://hdl.handle.net/10084/156567
Collections
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty bezpečnostního inženýrství / Theses and dissertations of Faculty of Safety Engineering (FBI) [5882]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Advanced Search

Helpful Links

VŠB-TUOVŠB-TUO Central LibraryBlog E-SourcesOpen Access WeekOpen Access Guide

Browse

All of DSpaceCommunities & CollectionsBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsTypeThis CollectionBy Issue DateAuthorsTitlesSubjectsType

My Account

Login

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Contact Us | Send Feedback
openair
Theme by  
@mire NV