Show simple item record

dc.contributor.advisorHlavatý, Lukáš
dc.contributor.authorVrtek, Tomáš
dc.date.accessioned2025-06-23T11:50:00Z
dc.date.available2025-06-23T11:50:00Z
dc.date.issued2025
dc.identifier.otherOSD002
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/156975
dc.description.abstractTato bakalářská práce se zabývá návrhem a realizací čtyř laboratorních úloh na výukové desce TI Analog Electronics Board ve spojení se zařízením NI ELVIS III. V prostředí NI LabVIEW byly vytvořeny aplikace určené pro automatizované měření, zpracování a vizualizaci dat. Laboratorní úlohy se zaměřují na měření voltampérových charakteristik diod, bipolárních tranzistorů (BJT), tranzistorů řízených elektrickým polem (MOSFET) a na měření teploty pomocí polovodičových součástek. Přesnost měření byla ověřena porovnáním s teoretickými předpoklady a referenčními hodnotami. Výsledkem práce je sada funkčních aplikací a doprovodné dokumentace připravená k využití při výuce.cs
dc.description.abstractThis bachelor thesis deals with the design and implementation of four laboratory exercises on the TI Analog Electronics Board in conjunction with the NI ELVIS III. Applications for automated measurement, data processing, and visualization were developed in the NI LabVIEW environment. The laboratory exercises focus on measuring the current-voltage characteristics of diodes, bipolar junction transistors (BJTs), field-effect transistors (MOSFETs), and on temperature measurement using semiconductor components. The accuracy of the measurements was verified by comparison with theoretical predictions and reference values. The work resulted in a set of functional applications and accompanying documentation ready for use in teaching.en
dc.format.extent65322620 bytes
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isocs
dc.publisherVysoká škola báňská – Technická univerzita Ostravacs
dc.subjectNI ELVIS IIIcs
dc.subjectTI Analog Electronics Boardcs
dc.subjectNI LabVIEWcs
dc.subjectlaboratorní úlohycs
dc.subjectpolovodičecs
dc.subjectVA charakteristikacs
dc.subjectMOSFETcs
dc.subjectBJTcs
dc.subjectměření teplotycs
dc.subjectNI ELVIS IIIen
dc.subjectTI Analog Electronics Boarden
dc.subjectNI LabVIEWen
dc.subjectlaboratory exercisesen
dc.subjectsemiconductorsen
dc.subjectcurrent-voltage characteristicsen
dc.subjectMOSFETen
dc.subjectBJTen
dc.subjecttemperature measurementen
dc.titleLaboratorní úlohy pro výuku automatizace měření a testovánícs
dc.title.alternativeLaboratory Tasks for Teaching Measurement and Testing Automationen
dc.typeBakalářská prácecs
dc.contributor.refereeDanys, Lukáš
dc.date.accepted2025-06-06
dc.thesis.degree-nameBc.
dc.thesis.degree-levelBakalářský studijní programcs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatikycs
dc.description.department450 - Katedra kybernetiky a biomedicínského inženýrstvícs
dc.thesis.degree-programPočítačové systémy pro průmysl 21. stoletícs
dc.description.resultvýborněcs
dc.identifier.senderS2724
dc.identifier.thesisVRT0026_FEI_B0714A150003_2025
dc.rights.accessopenAccess


Files in this item

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record