dc.contributor.advisor | Hlavatý, Lukáš | |
dc.contributor.author | Vrtek, Tomáš | |
dc.date.accessioned | 2025-06-23T11:50:00Z | |
dc.date.available | 2025-06-23T11:50:00Z | |
dc.date.issued | 2025 | |
dc.identifier.other | OSD002 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/156975 | |
dc.description.abstract | Tato bakalářská práce se zabývá návrhem a realizací čtyř laboratorních úloh na výukové desce TI Analog Electronics Board ve spojení se zařízením NI ELVIS III. V prostředí NI LabVIEW byly vytvořeny aplikace určené pro automatizované měření, zpracování a vizualizaci dat. Laboratorní úlohy se zaměřují na měření voltampérových charakteristik diod, bipolárních tranzistorů (BJT), tranzistorů řízených elektrickým polem (MOSFET) a na měření teploty pomocí polovodičových součástek. Přesnost měření byla ověřena porovnáním s teoretickými předpoklady a referenčními hodnotami. Výsledkem práce je sada funkčních aplikací a doprovodné dokumentace připravená k využití při výuce. | cs |
dc.description.abstract | This bachelor thesis deals with the design and implementation of four laboratory exercises on the TI Analog Electronics Board in conjunction with the NI ELVIS III. Applications for automated measurement, data processing, and visualization were developed in the NI LabVIEW environment. The laboratory exercises focus on measuring the current-voltage characteristics of diodes, bipolar junction transistors (BJTs), field-effect transistors (MOSFETs), and on temperature measurement using semiconductor components. The accuracy of the measurements was verified by comparison with theoretical predictions and reference values. The work resulted in a set of functional applications and accompanying documentation ready for use in teaching. | en |
dc.format.extent | 65322620 bytes | |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | cs | |
dc.publisher | Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava | cs |
dc.subject | NI ELVIS III | cs |
dc.subject | TI Analog Electronics Board | cs |
dc.subject | NI LabVIEW | cs |
dc.subject | laboratorní úlohy | cs |
dc.subject | polovodiče | cs |
dc.subject | VA charakteristika | cs |
dc.subject | MOSFET | cs |
dc.subject | BJT | cs |
dc.subject | měření teploty | cs |
dc.subject | NI ELVIS III | en |
dc.subject | TI Analog Electronics Board | en |
dc.subject | NI LabVIEW | en |
dc.subject | laboratory exercises | en |
dc.subject | semiconductors | en |
dc.subject | current-voltage characteristics | en |
dc.subject | MOSFET | en |
dc.subject | BJT | en |
dc.subject | temperature measurement | en |
dc.title | Laboratorní úlohy pro výuku automatizace měření a testování | cs |
dc.title.alternative | Laboratory Tasks for Teaching Measurement and Testing Automation | en |
dc.type | Bakalářská práce | cs |
dc.contributor.referee | Danys, Lukáš | |
dc.date.accepted | 2025-06-06 | |
dc.thesis.degree-name | Bc. | |
dc.thesis.degree-level | Bakalářský studijní program | cs |
dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatiky | cs |
dc.description.department | 450 - Katedra kybernetiky a biomedicínského inženýrství | cs |
dc.thesis.degree-program | Počítačové systémy pro průmysl 21. století | cs |
dc.description.result | výborně | cs |
dc.identifier.sender | S2724 | |
dc.identifier.thesis | VRT0026_FEI_B0714A150003_2025 | |
dc.rights.access | openAccess | |