| dc.contributor.advisor | Langhammer, Pavel | en |
| dc.contributor.author | Dulava, David | en |
| dc.date.accessioned | 2006-04-20T04:07:49Z | |
| dc.date.available | 2006-04-20T04:07:49Z | |
| dc.date.issued | 2004 | en |
| dc.identifier | 200410276 DP | en |
| dc.identifier.other | OSD002 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/41268 | |
| dc.description | Import 20/04/2006 | |
| dc.format | 57 l., [28] l. příl. : il. | en |
| dc.language.iso | cs | en |
| dc.publisher | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava | cs |
| dc.title | Měření charakteristik a mezních parametrů výkonových BJT a MOSFET tranzistorů přístrojem TEKTRONIX 370 | cs |
| dc.type | Diplomová práce | en |
| dc.identifier.signature | 33101/10276 | en |
| dc.identifier.location | ÚK/Sklad diplomových prací | en |
| dc.date.accepted | 2004 | en |
| dc.description.category | Prezenční výpůjčka | en |
| dc.description.department | VŠB - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatiky. Katedra (454) elektroniky a telekomunikační techniky | cs |