Kontrola spolehlivosti digitálních radiotechnických systémů

Abstract

Práce se zabýva zpracovaním metodiky hodnocení bezporuchovosti obvodů vysoké integrace (LSI) a velmi vysoké integrace (VLSI). V práci je provedena srovnávací analýzya faktorů určujících bezporuchovost integrovaných obvodů, analýza existujících metodik a modelu hodnocení bezporuchové činnosti obvodu LSI a VLSI, je zde navržen logaritmus a program pro analýzu poruchovosti obvodů LSI a VLSI.

This thesis appertains to compile methodics, relating to ratings of faultless functioning of large scale integration circuits (LSI) and very large scale integration circuits (VLSI). In the thesis there is a comparation analysis of factors determining faultless of an integrated circuits, analysis of already existing methods and model for rating the faultless function of LSI and VLSI and also there is an algorithm and program for analysis of fault rate in LSI and VLSI circuits.