Zobrazit minimální záznam

dc.contributor.advisorPostava, Kamilen
dc.contributor.authorHalagačka, Lukášen
dc.date.accessioned2010-09-29T13:15:47Z
dc.date.available2010-09-29T13:15:47Z
dc.date.issued2010en
dc.identifier.otherOSD002cs
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/78421
dc.descriptionImport 29/09/2010cs
dc.description.abstractTato diplomová práce je zaměřena na modelování optické odezvy od periodických struktur. V první části jsou řešeny Maxwellovy rovnice pro struktury planárních vrstev pomoci Berremanova a Yehova přístupu. Výsledné vztahy jsou demonstrovovány na příkladu planární zlaté vrstvy s excitovanou plazmonovou resonancí. Hlavní část práce je věnována modelování periodických lamelárních (1D) mřížek pomoci metody vázaných vln, RCWA (Rigorous Coupled Wave Analysis). Pomoci S-maticoého algoritmu je modelován fotonický krystal s nereciproými optickými vlastnostmi. Je diskutována přesnost výpočtu při použití konečného počtu členů Fourierovy aproximace nespojité funkce permitivity a metoda Fourierovy faktorizace pro zlepšení konvergence. Pro zpětnou charakterizaci materiálu je uvedeno zobecnění elipsometrických měření pro připad jednoosé anisotropie.cs
dc.description.abstractThis master thesis is focused to modeling of the optical response from periodical optial structures. The first part is devoted the Berreman and Yeh approach for solving the Maxwell equations in planar layers medium. Theoretical results are demonstrated on the system with sufrace plasmon resonance in the gold layer. The main part of the work is devoted to the modeling of one dimensional periodical structures with the RCWA (Rigorous Coupled Wave Analysis) method. Photonics crystals with non-reciprocity effect are modeled using using S-matrix algorithm. The effect of truncation Fourier series and Fourier factorization is demonstrated. Generalization of spectroscopic ellipsometry method for characterization of uniaxial anisotropic material is presented.en
dc.format.extent528020 bytescs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.language.isocsen
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravacs
dc.subjectplanární vrstvycs
dc.subjectperiodické struktůrycs
dc.subjectoptická mřížkacs
dc.subjectRCWAcs
dc.subjectplasmonová rezonancecs
dc.subjectfotonický krystalcs
dc.subjectelipsometriecs
dc.subjectplanar layersen
dc.subjectperiodical structuresen
dc.subjectoptical gratingen
dc.subjectRCWAen
dc.subjectplasmon resonanceen
dc.subjectphotonics crystalen
dc.subjectellipsometryen
dc.titleModelování optické odezvy periodických systémůcs
dc.title.alternativeModelling of optical response form periodic systemsen
dc.typeDiplomová prácecs
dc.contributor.refereeAntoš, Romanen
dc.date.accepted2010-06-01en
dc.thesis.degree-nameIng.en
dc.thesis.degree-levelMagisterský studijní programcs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatikycs
dc.description.department457 - Katedra aplikované matematikyen
dc.thesis.degree-programInformační a komunikační technologiecs
dc.thesis.degree-branchVýpočetní matematikacs
dc.description.resultvýborněcs
dc.identifier.senderS2724cs
dc.identifier.thesisHAL29_FEI_N2647_1103T031_2010
dc.rights.accessopenAccess


Soubory tohoto záznamu

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

Zobrazit minimální záznam