dc.contributor.advisor | Sládeček, Václav | cs |
dc.contributor.author | Turoň, Lukáš | cs |
dc.date.accessioned | 2011-07-01T05:34:53Z | |
dc.date.available | 2011-07-01T05:34:53Z | |
dc.date.issued | 2011 | cs |
dc.identifier.other | OSD002 | cs |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/87511 | |
dc.description | Import 04/07/2011 | cs |
dc.description.abstract | Tato bakalářská práce se zabývá specifikaci požadavků na nejčastěji používané polovodičové součástky v laboratorních cvičeních z elektroniky a také základním ověřením činnosti těchto polovodičových součástek. V teoretické části jsou vypsaný vlastnosti, charakteristiky a základní zapojení s polovodičovými součástkami. Praktická část se zabývá návrhem a realizaci jednoduchého testeru na bipolární tranzistory, operační zesilovače a časovač NE555. Pro návrh testeru byl použit program Eagle, ve kterém bylo vytvořeno schéma a pak převedeno na desku plošných spojů. Indikace funkční nebo nefunkční polovodičové součástky je tvořena pomoci LED diod. | cs |
dc.description.abstract | This bachelor´s works deals with specific requierments of most commonly used Semiconductor Devices in electronics practicals and basic attestation of their work. The theoretical part consist of the features, characteristics and basic "switch-on". The practical part considers the suggestion and realization of simple testers for bipolar tranzistors, operational amplifiers and timer 555. For the design of these testers the program Eagle was used, in which the scheme was created and transformed to printed circuit board. Indications of functional and non-functional Semiconductor Devices are created with the help of LED diodes. | en |
dc.format.extent | 1654735 bytes | cs |
dc.format.mimetype | application/pdf | cs |
dc.language.iso | cs | cs |
dc.publisher | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava | cs |
dc.subject | Tester polovodičových součástek | cs |
dc.subject | diody, tranzistory | cs |
dc.subject | operační zesilovače | cs |
dc.subject | časovač NE555 | cs |
dc.subject | Semiconductor Devices Tester | en |
dc.subject | diodes | en |
dc.subject | tranzistors | en |
dc.subject | operation amplifer | en |
dc.subject | timer NE555 | en |
dc.title | Tester polovodičových součástek pro elektronická měření. | cs |
dc.title.alternative | Semiconductor Devices Tester for Electronic Measurement. | en |
dc.type | Bakalářská práce | cs |
dc.contributor.referee | Vaculík, Petr | cs |
dc.date.accepted | 2011-05-31 | cs |
dc.thesis.degree-name | Bc. | cs |
dc.thesis.degree-level | Bakalářský studijní program | cs |
dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatiky | cs |
dc.description.department | 430 - Katedra elektroniky | cs |
dc.thesis.degree-program | Elektrotechnika | cs |
dc.thesis.degree-branch | Aplikovaná a komerční elektronika | cs |
dc.description.result | dobře | cs |
dc.identifier.sender | S2724 | cs |
dc.identifier.thesis | TUR159_FEI_B2649_2602R014_2011 | |
dc.rights.access | openAccess | |