DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Prohlížení dle autora 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Prohlížení dle autora
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Prohlížení dle autora
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Prohlížení dle autora "Horie, Masahiro"

  • 0-9
  • A
  • B
  • C
  • D
  • E
  • F
  • G
  • H
  • I
  • J
  • K
  • L
  • M
  • N
  • O
  • P
  • Q
  • R
  • S
  • T
  • U
  • V
  • W
  • X
  • Y
  • Z

Seřadit dle:

Řazení:

Výsledky:

Zobrazují se záznamy 1-8 z 8

  • název
  • datum vydání
  • datum zaslání
  • vzestupně
  • sestupně
  • 5
  • 10
  • 20
  • 40
  • 60
  • 80
  • 100
  • Convergence properties of critical dimension measurements by spectroscopic ellipsometry on gratings made of various materials 

    Antoš, Roman; Pištora, Jaromír; Mistrík, Jan; Yamaguchi, Tomuo; Yamaguchi, Shinji; Horie, Masahiro; Višňovský, Štefan; Otani, Yoshichika (Journal of Applied Physics. 2006, vol. 100, issue 5, 11 p.)
  • Effects influencing the spectral ellipsometry angles of 2D periodical structures 

    Pištora, Jaromír; Vlček, Jaroslav; Yamaguchi, Tomuo; Postava, Kamil; Horie, Masahiro; Aoyama, Mitsuru (Sborník vědeckých prací Vysoké školy báňské - Technické univerzity Ostrava. Řada elektrotechnická. 2003, roč. 6, č. 1, s. 180-192 : il.)
  • Estimation of the dielectric properties of low-k materials using optical spectroscopy 

    Postava, Kamil; Yamaguchi, Tomuo; Horie, Masahiro (Applied Physics Letters. 2001, vol. 79, issue 14, p. 2231-2233.)
  • Experimental spectral ellipsometry of 1D deep lamellar gratings 

    Pištora, Jaromír; Yamaguchi, Tomuo; Horie, Masahiro; Aoyama, Mitsuru (Sborník vědeckých prací Vysoké školy báňské - Technické univerzity Ostrava. Řada hornicko-geologická. 2003, roč. 49, č. 1, s. 59-67 : il.)
  • Spectral ellipsometry of binary optic gratings 

    Pištora, Jaromír; Yamaguchi, Tomuo; Vlček, Jaroslav; Mistrík, Jan; Horie, Masahiro; Šmatko, Vasilij; Kováčová, Eva; Postava, Kamil; Aoyama, Mitsuru (Optica Applicata. 2003, vol. 33, no. 2-3, p. 251-262.)
  • Spectroscopic ellipsometry of epitaxial ZnO layer on sapphire substrate 

    Postava, Kamil; Sueki, H.; Aoyama, Mitsuru; Yamaguchi, Tomuo; Ino, Ch.; Igasaki, Y.; Horie, Masahiro (Journal of Applied Physics. 2000, vol. 87, issue 11, p. 7820-7824.)
  • Spectroscopic ellipsometry on lamellar gratings 

    Antoš, Roman; Ohlídal, Ivan; Mistrík, Jan; Murakami, K.; Yamaguchi, Tomuo; Pištora, Jaromír; Horie, Masahiro; Višňovský, Štefan (Applied Surface Science. 2005, vol. 244, issues 1-4, p. 225-229.)
  • Specular spectroscopic ellipsometry for the critical dimension monitoring of gratings fabricated on a thick transparent plate 

    Antoš, Roman; Pištora, Jaromír; Ohlídal, Ivan; Postava, Kamil; Mistrík, Jan; Yamaguchi, Tomuo; Višňovský, Štefan; Horie, Masahiro (Journal of Applied Physics. 2005, vol. 97, issue 5, 7 p.)

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV