DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Approach to stress tests in SIP environment based on marginal analysis

Zobrazit/otevřít
publishedVersion (2.914Mb)
Autor
Vozňák, Miroslav
Rozhon, Jan
Datum vydání
2013
Typ dokumentu
article
ISSN
1018-4864
1572-9451
Verze dokumentu
publishedVersion
Metadata
Zobrazit celý záznam
Citace zdrojového dokumentu
Telecommunication Systems. 2013, vol. 52, issue 3, p. 1583-1593.
Dostupné na
http://dx.doi.org/10.1007/s11235-011-9525-1
Přístupová práva
closedAccess
Práva
© Springer
URI
http://hdl.handle.net/10084/100641
Kolekce
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science [6767]
  • Publikační činnost Katedry telekomunikačních technologií / Publications of Department of Telecommunications (440) [297]
  • Články z časopisů s impakt faktorem / Articles from Impact Factor Journals [5157]
  • OpenAIRE [4204]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2023 
DSpace software copyright © 2002-2023 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2023 
DSpace software copyright © 2002-2023 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV