Využití elektronové mikroskopie v oblasti materiálové analýzy
| dc.contributor.advisor | Konečná, Kateřina | cs |
| dc.contributor.author | Pudichová, Kornelie | cs |
| dc.contributor.referee | Pečínková, Vladana | cs |
| dc.date.accepted | 2015-06-11 | cs |
| dc.date.accessioned | 2015-11-04T08:51:06Z | |
| dc.date.available | 2015-11-04T08:51:06Z | |
| dc.date.issued | 2015 | cs |
| dc.description | Import 04/11/2015 | cs |
| dc.description.abstract | V této práci jsou shrnuty základní poznatky o využití elektronové mikroskopie v materiálovém inženýrství, se zvláštním ohledem na využití rastrovací elektronové mikroskopie v oblasti analýzy materiálu. Praktická část práce je zaměřena na provedení strukturně fázové mikroanalýzy niklové superslitiny MAR – M247 ve stavu po odlití | cs |
| dc.description.abstract | This work summarizes the basic knowledge about the use of electron microscopy in materials engineering, with particular regard to the use of scanning electron microscopy in materials analysis. The practical part is focused on the implementation of structural phase microanalysis nickel superalloy MAR – M247 as cast. | en |
| dc.description.department | 636 - Katedra materiálového inženýrství | cs |
| dc.description.result | dobře | cs |
| dc.format.extent | 3558772 bytes | cs |
| dc.format.mimetype | application/x-download | cs |
| dc.identifier.other | OSD002 | cs |
| dc.identifier.sender | S2736 | cs |
| dc.identifier.thesis | PUD0008_FMMI_B3923_3911R028_2015 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/110892 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava | cs |
| dc.rights.access | openAccess | |
| dc.subject | Transmisní elektronový mikroskop | cs |
| dc.subject | Rastrovací elektronový mikroskop | cs |
| dc.subject | pružný rozptyl | cs |
| dc.subject | nepružný rozptyl | cs |
| dc.subject | kontrast | cs |
| dc.subject | sekundární elektrony | cs |
| dc.subject | odražené elektrony | cs |
| dc.subject | Transmission electron microscope | en |
| dc.subject | Scanning electron microscope | en |
| dc.subject | elastic scattering | en |
| dc.subject | inelastic scattering | en |
| dc.subject | contrast | en |
| dc.subject | secondary electrons | en |
| dc.subject | backscattered electrons | en |
| dc.thesis.degree-branch | Diagnostika materiálů | cs |
| dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta metalurgie a materiálového inženýrství | cs |
| dc.thesis.degree-level | Bakalářský studijní program | cs |
| dc.thesis.degree-name | Bc. | cs |
| dc.thesis.degree-program | Materiálové inženýrství | cs |
| dc.title | Využití elektronové mikroskopie v oblasti materiálové analýzy | cs |
| dc.title.alternative | The use of electron microscopy in materials analysis | en |
| dc.type | Bakalářská práce | cs |
Files
Original bundle
1 - 3 out of 3 results
Loading...
- Name:
- PUD0008_FMMI_B3923_3911R028_2015.pdf
- Size:
- 3.39 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
Loading...
- Name:
- PUD0008_FMMI_B3923_3911R028_2015_posudek_vedouci_Konecna_Katerina.jpeg
- Size:
- 526.6 KB
- Format:
- Joint Photographic Experts Group/JPEG File Interchange Format (JFIF)
- Description:
- Posudek vedoucího – Konečná, Kateřina
Loading...
- Name:
- PUD0008_FMMI_B3923_3911R028_2015_posudek_oponent_Pecinkova_Vladana.pdf
- Size:
- 586.62 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- Posudek oponenta – Pečínková, Vladana