DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Ekonomická fakulta / Faculty of Economics (EKF)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Ekonomické fakulty / Theses and dissertations of Faculty of Economics (EKF)
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Ekonomická fakulta / Faculty of Economics (EKF)
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Ekonomické fakulty / Theses and dissertations of Faculty of Economics (EKF)
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Racionalizace procesu řízení incidentů na IBM Mainframe v IT firmě

Další název
Incident Management Process Rationalization for the IBM Mainframe at the IT Company
Zobrazit/otevřít
BRT012_EKF_N6209_6209T025_2015.pdf (2.375Mb)
BRT012_EKF_N6209_6209T025_2015_priloha.zip (9.060Mb)
Posudek vedoucího – Ministr, Jan (143.5Kb)
Posudek oponenta – Urbanec, Ludvík (132.7Kb)
Autor
Brtko, Marián
Vedoucí práce
Ministr, Jan
Datum vydání
2015
Typ dokumentu
Diplomová práce
Metadata
Zobrazit celý záznam
Studijní program
Systémové inženýrství a informatika
Studijní obor
Systémové inženýrství a informatika
Instituce přidělující titul
Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Ekonomická fakulta
Přístupová práva
openAccess
Poznámka
Import 04/11/2015
URI
http://hdl.handle.net/10084/110658
Kolekce
  • Vysokoškolské kvalifikační práce Ekonomické fakulty / Theses and dissertations of Faculty of Economics (EKF) [36614]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV