DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Influence of crack propagation on electrical resistivity and ultrasonic characteristics of normal concrete assessed by sequential TPB fracture test

Autor
Veselý, Václav
Konečný, Petr
Lehner, Petr
Datum vydání
2015
Typ dokumentu
article
ISSN
0167-8442
1872-7638
Metadata
Zobrazit celý záznam
Citace zdrojového dokumentu
Theoretical and Applied Fracture Mechanics. 2015, vol. 80, p. 2-13.
Dostupné na
http://dx.doi.org/10.1016/j.tafmec.2015.09.005
Práva
Copyright © 2015 Elsevier Ltd. All rights reserved
URI
http://hdl.handle.net/10084/110994
Kolekce
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science [7798]
  • Články z časopisů s impakt faktorem / Articles from Impact Factor Journals [6377]
  • Publikační činnost Katedry stavební mechaniky / Publications of Department of Structural Mechanics (228) [90]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV