DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Periodika vydávaná na VŠB-TUO / Journals published by VŠB-TUO
  • Spektrum
  • Spektrum. 2012, roč. 12
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Periodika vydávaná na VŠB-TUO / Journals published by VŠB-TUO
  • Spektrum
  • Spektrum. 2012, roč. 12
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

Lokalizácia prechodového odporu prostredníctvom merania teploty nepriamou metódou vybraných žiarivkových telies. Časť II, Sériové zapojenie v elektrickom obvode

Další název
Location o contact resistance by an indirect method of measuring the temperature of selected fluorescent bodies. Part II, Continuous involvement in an electrical circuit
Zobrazit/otevřít
Spektrum_2012_2_7_Nemec.pdf (3.760Mb)
Autor
Nemec, Jozef
Marková, Iveta
Datum vydání
2012
Typ dokumentu
article
ISSN
1211-6920
Verze dokumentu
publishedVersion
Metadata
Zobrazit celý záznam
Citace zdrojového dokumentu
Spektrum. 2012, roč. 12, č. 2, s. 27-32 : il.
Přístupová práva
openAccess
URI
http://hdl.handle.net/10084/132598
Kolekce
  • Spektrum. 2012, roč. 12 [35]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV