DSpace VŠB-TUO
    • čeština
    • English
  • čeština 
    • čeština
    • English
  • Přihlásit se
Zobrazit záznam 
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
  •   DSpace VŠB-TUO
  • Univerzita VŠB-TUO / VŠB-TUO Comunity
  • Publikační činnost VŠB-TUO / Publications of VŠB-TUO
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science
  • Zobrazit záznam
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.

New approaches for mining high utility itemsets with multiple utility thresholds

Autor
Huynh, Bao
Tung, N. T.
Nguyen, Trinh D. D.
Trinh, Cuong
Snášel, Václav
Nguyen, Loan
Datum vydání
2023
Typ dokumentu
article
ISSN
0924-669X
1573-7497
Metadata
Zobrazit celý záznam
Citace zdrojového dokumentu
Applied Intelligence. 2023, vol. 54, issue 1, p. 767-790.
Dostupné na
https://doi.org/10.1007/s10489-023-05145-8
Práva
Copyright © 2023, The Author(s), under exclusive licence to Springer Science Business Media, LLC, part of Springer Nature
URI
http://hdl.handle.net/10084/152723
Kolekce
  • Články z časopisů s impakt faktorem / Articles from Impact Factor Journals [6377]
  • Publikační činnost Katedry informatiky / Publications of Department of Computer Science (460) [562]
  • Publikační činnost VŠB-TUO ve Web of Science / Publications of VŠB-TUO in Web of Science [7798]
Citace PRO

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV
 

 

Rozšířené hledání

Užitečné odkazy

VŠB-TUOÚstřední knihovna VŠB-TUOBlog E-zdrojeOpen Access WeekPrůvodce Open Access

Procházet

Vše v DSpaceKomunity a kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentuTato kolekceDatum vydáníAutořiNázvyKlíčová slovaTyp dokumentu

Můj účet

Přihlásit se

VŠB-TUO copyright © 2006-2025 
DSpace software copyright © 2002-2025 MIT and HP
Kontaktujte nás | Vyjádření názoru
openair
Theme by  
@mire NV