Method for increasing sensitivity of shear-force distance control for scanning near-field microscopy

Autor
Datum vydání
1999
Typ dokumentu
article
Lokace
Není ve fondu ÚK
ISSN
0169-4332
Metadata
Zobrazit celý záznam
Citace zdrojového dokumentu
Applied Surface Science. 1999, vol. 144-145, p. 510-513.
Dostupné na
http://dx.doi.org/10.1016/S0169-4332(98)00850-2
URI
http://hdl.handle.net/10084/61578
Kolekce
Citace PRO