Zobrazit minimální záznam

Spolehlivost programového vybavení pro obvody vysoké integrace a obvody velmi vysoké integrace

dc.contributor.authorGaniyev, Artem
dc.contributor.authorVitásek, Jan
dc.date.accessioned2011-02-09T06:52:35Z
dc.date.available2011-02-09T06:52:35Z
dc.date.issued2010
dc.identifier.citationAdvances in electrical and electronic engineering. 2010. vol. 8, no. 2, p. 48-53.en
dc.identifier.issn1804-3119
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/84177
dc.description.abstractČlánek se zabývá zpracováním metodiky hodnocení bezporuchovosti obvodů vysoké integrace (LSI) a velmi vysoké integrace (VLSI). V článku je provedena srovnávací analýza faktorů určujících bezporuchovost integrovaných obvodů, analýza existujících metodik a modelu hodnocení bezporuchové činnosti obvodů vysoké integrace a velmi vysoké integrace. Stěžejní částí článku je popis navrženého algoritmu a programu pro analýzu poruchovosti obvodů vysoké integrace a velmi vysoké integrace.en
dc.format.extent199656 bytescs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.language.isocsen
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravaen
dc.relation.ispartofseriesAdvances in electrical and electronic engineeringen
dc.relation.urihttp://advances.utc.sk/index.php/AEEEen
dc.rightsCreative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)
dc.rights© Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by/3.0/
dc.titleSpolehlivost programového vybavení pro obvody vysoké integrace a obvody velmi vysoké integraceen
dc.title.alternativeThe software reliability of large scale integration circuit and very large scale integration circuiten
dc.typearticleen
dc.description.abstract-enThis article describes evaluation method of faultless function of large scale integration circuits (LSI) and very large scale integration circuits (VLSI). In the article there is a comparative analysis of factors which determine faultless of integrated circuits, analysis of already existing methods and model of faultless function evaluation of LSI and VLSI. The main part describes a proposed algorithm and program for analysis of fault rate in LSI and VLSI circuits.en
dc.rights.accessopenAccess
dc.type.versionpublishedVersioncs
dc.type.statusPeer-reviewedcs


Soubory tohoto záznamu

Název:
AEEE-2010-8-2-48-ganiyev.pdf
Velikost:
194.9Kb
Formát:
PDF
Zobrazit/otevřít

Tento záznam se objevuje v následujících kolekcích

  • OpenAIRE [5085]
    Kolekce určená pro sklízení infrastrukturou OpenAIRE; obsahuje otevřeně přístupné publikace, případně další publikace, které jsou výsledkem projektů rámcových programů Evropské komise (7. RP, H2020, Horizon Europe).
  • AEEE. 2010, vol. 8 [25]

Zobrazit minimální záznam

Creative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)
Kromě případů, kde je uvedeno jinak, licence tohoto záznamu je Creative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)