New sophisticated analysis method of crystallizer temperature profile utilizing optical fiber DTS based on the stimulated Raman scattering
Zobrazit/ otevřít
Autor
Datum vydání
2012Typ dokumentu
article
ISSN
1804-3119
Verze dokumentu
publishedVersion
Metadata
Zobrazit celý záznamCitace zdrojového dokumentu
Advances in electrical and electronic engineering. 2012, vol. 10, no. 2, p. 106-114.
Přístupová práva
openAccess
Práva
© Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava Creative Commons Attribution 3.0 Unported (CC BY 3.0)
Kolekce
- OpenAIRE [5085]
- AEEE. 2012, vol. 10 [57]