Využití řádkovací elektronové mikroskopie pro charakteristiku struktury technických materiálů
| dc.contributor.advisor | Konečná, Kateřina | cs |
| dc.contributor.author | Kocián, Vojtěch | cs |
| dc.contributor.referee | Rábl, Václav | cs |
| dc.date.accepted | 2012-06-05 | cs |
| dc.date.accessioned | 2012-10-30T09:40:14Z | |
| dc.date.available | 2012-10-30T09:40:14Z | |
| dc.date.issued | 2012 | cs |
| dc.description | Import 30/10/2012 | cs |
| dc.description.abstract | Tato bakalářská práce je zaměřena na využití rastrovací elektronové mikroskopie pro charakterizaci struktury technických materiálů. V této bakalářské práci je popsáno a několik metod zkoumání struktury materiálů pomocí skenovacího elektronového mikroskopu a dále příprava vzorku pro elektronovou mikroskopii. Na závěr této bakalářské práce byla provedena i praktická část, ve které je graficky a tabulkově znázorněn rozdíl mezi hlavním zobrazovacími metodami. | cs |
| dc.description.abstract | This thesis is focused on the use of scanning electron microscopy to characterize the structure of technical materials. In this Thesis, I have described several methods for studying the structure of materials using a scanning electron microscope and sample preparation for electron microscopy. There was also a practical part conducted in the conclusion of this Thesis which illustrates both graphically and in tables the diference between the main paging methods. | en |
| dc.description.department | 636 - Katedra materiálového inženýrství | cs |
| dc.description.result | výborně | cs |
| dc.format.extent | 3156704 bytes | cs |
| dc.format.mimetype | application/pdf | cs |
| dc.identifier.other | OSD002 | cs |
| dc.identifier.sender | S2736 | cs |
| dc.identifier.thesis | KOC0027_FMMI_B3923_3911R030_2012 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/95464 | |
| dc.language.iso | cs | cs |
| dc.publisher | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava | cs |
| dc.rights.access | openAccess | |
| dc.subject | Skenovací elektronový mikroskop, kontrast, karbid, sekundární elektrony, odražené elektrony | cs |
| dc.subject | The Scanning Electron Microscope, contrast, karbid, secondary elektron, Backscattered electrons, | en |
| dc.thesis.degree-branch | Technické materiály | cs |
| dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta metalurgie a materiálového inženýrství | cs |
| dc.thesis.degree-level | Bakalářský studijní program | cs |
| dc.thesis.degree-name | Bc. | cs |
| dc.thesis.degree-program | Materiálové inženýrství | cs |
| dc.title | Využití řádkovací elektronové mikroskopie pro charakteristiku struktury technických materiálů | cs |
| dc.title.alternative | Use of scanning electron microscopy for characterizing structure of technical materials | en |
| dc.type | Bakalářská práce | cs |
Files
Original bundle
1 - 2 out of 2 results
Loading...
- Name:
- KOC0027_FMMI_B3923_3911R030_2012.pdf
- Size:
- 3.01 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
Loading...
- Name:
- KOC0027_FMMI_B3923_3911R030_2012_posudek_vedouci_Konecna_Katerina.jpg
- Size:
- 937.66 KB
- Format:
- Joint Photographic Experts Group/JPEG File Interchange Format (JFIF)
- Description:
- Posudek vedoucího – Konečná, Kateřina