Příprava polyanilinových vrstev na skle a jejich charakterizace pomocí mikroskopie atomárních sil

Abstract

Diplomová práce popisuje přípravu polyanilinových (PANI) vrstev na skleněném substrátu přichystaných in-situ polymerizací anilinu smícháním dvou reakčních roztoků a jejich následnou charakterizaci mikroskopií atomárních sil (AFM). V závislosti na době setrvání skleněného substrátu v reakční směsi byla pomocí AFM určena morfologie, drsnost, a tloušťka vytvořených vrstev a taktéž měřena jejich adheze ke zlatu a křemíku. Díky této mikroskopické technice lze velmi dobře pozorovat jednotlivé kroky při vytváření samotných PANI tenkých vrstev, tj. růst a zaoblování zrn, zaplňování mezer mezi nimi a tvorba souvislého filmu. Jak charakterizace samotného povrchu PANI vrstev, tak určení adheze neboli přilnavosti k různým materiálům má velký vliv pro jejich další využití a aplikace.

This thesis describes the preparation of polyaniline (PANI) thin layers prepared on the glass substrate by in-situ polymerization of aniline by mixing two solutions and characterization of such prepared films by atomic force microscopy (AFM). Depending on the deposition time (i.e. the immersion of the glass slide in the reaction mixture), morphology, surface roughness and thickness of the formed layers were determined by AFM. Adhesion to gold and silicon was also measured. Using this microscopic technique the single steps of creating the PANI thin layers, i.e. growth and rounding of grains, filling gaps between them and the formation of a continuous film can be very well observed. Surface characterization of PANI layers as well as the determination of their adhesion, has a great influence on their further use and application.