Analýza vlivu skenovací orientace na vznik odlehlých hodnot u optických zařízení
| dc.contributor.advisor | Zelinka, Jan | |
| dc.contributor.author | Bláha, Martin | |
| dc.contributor.referee | Jansa, Jan | |
| dc.date.accepted | 2025-06-03 | |
| dc.date.accessioned | 2025-06-23T11:52:39Z | |
| dc.date.available | 2025-06-23T11:52:39Z | |
| dc.date.issued | 2025 | |
| dc.description.abstract | Bakalářská práce se zabývá analýzou vlivu skenovací orientace na vznik odlehlých hodnot u optických zařízení. Cílem práce je experimentálně zhodnotit, jak různé úhly skenování ovlivňují kvalitu a přesnost 3D skenování, a identifikovat optimální skenovací parametry pro minimalizaci vzniku odlehlých hodnot. V experimentální části byly využity dva typy skenerů, HandySCAN BLACK ELITE a WENZEL SHAPETRACER II. Byla provedena měření koncové měrky při různých úhlových nastaveních a výsledky byly analyzovány pomocí softwaru ZEISS INSPECT. Práce se zaměřuje na identifikaci kritických úhlů, při kterých dochází k největším odchylkám. | cs |
| dc.description.abstract | The bachelor thesis focuses on the analysis of the influence of scanning orientation on the occurrence of outliers in optical devices. The aim of the thesis is to experimentally evaluate how different scanning angles affect the quality and accuracy of 3D scanning and to identify optimal scanning parameters to minimize the occurrence of outliers. The experimental part utilized two types of scanners, the HandySCAN BLACK ELITE and the WENZEL SHAPETRACER II. Measurements of a gauge block were carried out at various angular settings, and the results were analyzed using ZEISS INSPECT software. The thesis aims to identify critical angles at which the most significant deviations occur. | en |
| dc.description.department | 346 - Katedra obrábění, montáže a strojírenské metrologie | cs |
| dc.description.result | výborně | cs |
| dc.format.extent | 2475200 bytes | |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.identifier.other | OSD002 | |
| dc.identifier.sender | S2723 | |
| dc.identifier.thesis | BLA0339_FS_B0715A270011_S09_2025 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10084/157743 | |
| dc.language.iso | cs | |
| dc.publisher | Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava | cs |
| dc.rights.access | openAccess | |
| dc.subject | Odlehlé hodnoty | cs |
| dc.subject | koncová měrka | cs |
| dc.subject | skenovací orientace | cs |
| dc.subject | 3D skenování | cs |
| dc.subject | Outliers | en |
| dc.subject | gauge block | en |
| dc.subject | scanning orientation | en |
| dc.subject | 3D scanning | en |
| dc.thesis.degree-branch | Strojírenská technologie | cs |
| dc.thesis.degree-grantor | Vysoká škola báňská – Technická univerzita Ostrava. Fakulta strojní | cs |
| dc.thesis.degree-level | Bakalářský studijní program | cs |
| dc.thesis.degree-name | Bc. | |
| dc.thesis.degree-program | Strojírenství | cs |
| dc.title | Analýza vlivu skenovací orientace na vznik odlehlých hodnot u optických zařízení | cs |
| dc.title.alternative | Analysis of the Influence of Scanning Orientation on the Occurrence of Outliers in Optical Devices | en |
| dc.type | Bakalářská práce | cs |
Files
Original bundle
1 - 5 out of 5 results
Loading...
- Name:
- BLA0339_FS_B0715A270011_S09_2025.pdf
- Size:
- 2.36 MB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- Text práce
Loading...
- Name:
- BLA0339_FS_B0715A270011_S09_2025_zadani.pdf
- Size:
- 124.13 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- Zadání
Loading...
- Name:
- BLA0339_FS_B0715A270011_S09_2025_posudek_vedouci_Zelinka_Jan.pdf
- Size:
- 136.96 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- Posudek vedoucího – Zelinka, Jan
Loading...
- Name:
- BLA0339_FS_B0715A270011_S09_2025_posudek_oponent_Jansa_Jan.pdf
- Size:
- 135.22 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- Posudek oponenta – Jansa, Jan
Loading...
- Name:
- BLA0339_FS_B0715A270011_S09_2025_zaznam_z_obhajoby.pdf
- Size:
- 58.03 KB
- Format:
- Adobe Portable Document Format
- Description:
- Záznam o průběhu a výsledku obhajoby