Polarization characterization of anisotropic samples using Terahertz time-domain spectroscopic ellipsometry

Abstract

This bachelor’s thesis focuses on the implementation, assembly, and performance evaluation of a complete terahertz time-domain ellipsometry system. This technique extends the capabilities of conventional ellipsometric methods due to its ability to obtain the full Jones and Mueller matrices of a sample. The measured Jones matrices are subsequently transformed using mathematical procedures into the so-called Pauli exponential coefficients, which allow for a direct description of diattenuation and retardance. The capability of this method to meaningfully characterize the optical properties and anisotropy of materials is demonstrated on a quartz crystal.

Tato bakalářská práce se zaměřuje na implementaci, sestavení a vyhodnocení funkčnosti systému kompletní terahertzové elipsometrie v časové doméně. Tato metoda rozšiřuje možnosti konvenčních elipsometrických postupů díky schopnosti získat úplné Jonesovy a Muellerovy matice vzorku. Naměřené Jonesovy matice jsou následně pomocí matematických postupů transformovány na tzv. Pauliho exponenciální koeficienty, které umožňují přímý popis diattenuace a retardance. Schopnost této metody smysluplně charakterizovat optické vlastnosti a anizotropii materiálů je demonstrována na křemenném krystalu.