Rietveldova metoda kvantitativní fázové analýzy a její využití v praxi

dc.contributor.advisorMamulová Kutláková, Kateřina
dc.contributor.authorHerman, Lukáš
dc.contributor.refereeKupková, Jana
dc.date.accepted2018-06-13
dc.date.accessioned2018-06-26T08:17:49Z
dc.date.available2018-06-26T08:17:49Z
dc.date.issued2018
dc.description.abstractDiplomová práce je zaměřena na teoretické i praktické využití Rietveldovi metody. Rietveldova metoda kvantitativní fázové analýzy efektivně řeší problém práškových difrakčních technik – překrývající se píky. V úvodu je představena kinematická teorie rentgenové difrakce, která je pro pochopení Rietveldovi metody stěžejní. Dále je práce zaměřena na matematický základ samotné metody. Praktická část diplomové práce je věnována názorným příkladům zpřesňování struktur za pomocí strukturních vstupů formou uživatelského manuálu. V závěru diplomové práce je uveden popis podrobného zpřesňování krystalografické struktury kaolinit/ZnS za pomocí softwaru Diffrac Topas.cs
dc.description.abstractThis diploma thesis focuses on familiarization with the Rietveld method of quantitative phase analysis, which solves the biggest issue of powder diffraction – overlapping peaks. First part of thesis shows kinematic theory of x-ray diffraction, which is essential for understanding Rietveld method. Next part of thesis will focus on mathematical background for the method. Practical part of this thesis consists of examples of refinementing structures in the form of user manual. Final part will be focused on very detailed refinement of Kaolinite Zn/S with the use of software Diffrac Topas.en
dc.description.department9360 - Centrum nanotechnologiícs
dc.description.resultvýborněcs
dc.format.extent5031667 bytes
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.identifier.otherOSD002
dc.identifier.senderS2790
dc.identifier.thesisHER0095_USP_N3942_3942T001_2018
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/130297
dc.language.isocs
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravacs
dc.rights.accessopenAccess
dc.subjectRietveldova metoda, rentgenová difrakce, TOPAS, Sulfid zinečnatý.cs
dc.subjectRietveld Method, x-ray diffraction, TOPAS, ZnS.en
dc.thesis.degree-branchNanotechnologiecs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Univerzitní studijní programycs
dc.thesis.degree-levelMagisterský studijní programcs
dc.thesis.degree-nameIng.
dc.thesis.degree-programNanotechnologiecs
dc.titleRietveldova metoda kvantitativní fázové analýzy a její využití v praxics
dc.title.alternativeRietveld method of quantitative phase analysis and its practical usageen
dc.typeDiplomová prácecs

Files

Original bundle

Now showing 1 - 3 out of 3 results
Loading...
Thumbnail Image
Name:
HER0095_USP_N3942_3942T001_2018.pdf
Size:
4.8 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Text práce
Loading...
Thumbnail Image
Name:
HER0095_USP_N3942_3942T001_2018_posudek_vedouci_Mamulova_Kutlakova_Katerina.pdf
Size:
53.41 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek vedoucího – Mamulová Kutláková, Kateřina
Loading...
Thumbnail Image
Name:
HER0095_USP_N3942_3942T001_2018_posudek_oponent_Kupkova_Jana.pdf
Size:
70.98 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek oponenta – Kupková, Jana