Moderní trendy v oblasti SiC polovodičů

dc.contributor.advisorVaculík, Petrcs
dc.contributor.authorPavlů, Liborcs
dc.contributor.refereePavelek, Tomášcs
dc.date.accepted2013-06-04cs
dc.date.accessioned2013-06-26T11:18:47Z
dc.date.available2013-06-26T11:18:47Z
dc.date.issued2013cs
dc.descriptionImport 26/06/2013cs
dc.description.abstractBakalářská práce se zabývá popisem, vlastnostmi krystalové struktury sloučenin karbidu křemíku a jejich rozdíly v krystalové struktuře. Provedením průzkumu trhu je zjištěna dostupnost SiC polovodičů na trhu, kterým se poté věnuji a popisuji jejich konstrukce, vlastnosti, použití. Pro porovnání Si polovodičů s SiC je použito modelování statických charakteristik v simulačních programech. Tyto simulace jsou podpořeny o výsledky praktického měření statických a dynamických charakteristik různých typů tranzistorů na bázi křemíku a karbidu křemíku.cs
dc.description.abstractThis thesis deals with the description, the characteristics of the crystal structures of compounds of silicon carbide and their differences in the crystal structure. Availability of SiC semiconductors was found out by market research. I devote to these SiC semiconductors, and describe their construction, properties, and applications.For comparison Si semiconductor with SiC, modeling of static characteristics in simulation programs is used. These simulations are supported by the results of the practical measurement of static and dynamic characteristics of different types of transistors based on silicon and silicon carbide.en
dc.description.department430 - Katedra elektronikycs
dc.description.resultvelmi dobřecs
dc.format.extent11722730 bytescs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.identifier.otherOSD002cs
dc.identifier.senderS2724cs
dc.identifier.thesisPAV0084_FEI_B2649_2602R014_2013
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/98806
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravacs
dc.rights.accessopenAccess
dc.subjectKarbid křemíku (SiC)cs
dc.subjectpolytypycs
dc.subjectSiC Schottkyho diodycs
dc.subjectSiC tyristorcs
dc.subjectSiC MOSFETcs
dc.subjectSiC IGBTcs
dc.subjectSilicon carbide (SiC)en
dc.subjectpolytypeen
dc.subjectSiC Schottkyho diodesen
dc.subjectSiC Thyristoren
dc.subjectSiC MOSFETen
dc.subjectSiC IGBTen
dc.thesis.degree-branchAplikovaná a komerční elektronikacs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatikycs
dc.thesis.degree-levelBakalářský studijní programcs
dc.thesis.degree-nameBc.cs
dc.thesis.degree-programElektrotechnikacs
dc.titleModerní trendy v oblasti SiC polovodičůcs
dc.title.alternativeModern Trends in the Field of SiC Semiconductorsen
dc.typeBakalářská prácecs

Files

Original bundle

Now showing 1 - 3 out of 3 results
Loading...
Thumbnail Image
Name:
PAV0084_FEI_B2649_2602R014_2013.pdf
Size:
11.18 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Loading...
Thumbnail Image
Name:
PAV0084_FEI_B2649_2602R014_2013_posudek_vedouci_Vaculik_Petr.pdf
Size:
50.43 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek vedoucího – Vaculík, Petr
Loading...
Thumbnail Image
Name:
PAV0084_FEI_B2649_2602R014_2013_posudek_oponent_Pavelek_Tomas.pdf
Size:
49.46 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek oponenta – Pavelek, Tomáš