Konverze měření obvodů řady CCR z testeru DTS na ETS

Staněk, Ondřej

Konverze měření obvodů řady CCR z testeru DTS na ETS

dc.contributor.advisor	Bilík, Petr
dc.contributor.author	Staněk, Ondřej
dc.contributor.referee	Bernkopf, Jaroslav
dc.date.accepted	2020-06-25
dc.date.accessioned	2020-07-20T12:05:28Z
dc.date.available	2020-07-20T12:05:28Z
dc.date.issued	2019
dc.description.abstract	Bakalářská práce se zabývá migrací testovacího řešení používaného ve výrobním procesu integrovaných obvodů řady CCR (Constant Current Regulator) z testovací platformy DTS2 na platformu ETS-300. Důvodem je uvolnění testovací kapacity na platformě DTS2. Součástí práce je analýza stávajícího řešení pro tester DTS2 a návrh nového řešení pro tester ETS-300. Nové řešení zahrnuje napsání testovacího programu, návrh aplikační desky, testovacího adaptéru a hrotové karty.	cs
dc.description.abstract	The bachelor thesis describes the migration of the test solution used in CCR (Constant Current Regulator) integrated circuit family manufacturing process from DTS2 test platform to ETS-300 platform. The reason is to free test capacity on DTS2 platform. The thesis contains analysis of the current solution for DTS2 and the design of the new solution for the ETS-300. The new solution will consist of coding test program, designing application board, load board and probe card.	en
dc.description.department	450 - Katedra kybernetiky a biomedicínského inženýrství	cs
dc.description.result	výborně	cs
dc.format.extent	3614741 bytes
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.identifier.other	OSD002
dc.identifier.sender	S2724
dc.identifier.thesis	STA819_FEI_B2649_2612R041_2019
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/10084/140365
dc.language.iso	cs
dc.publisher	Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava	cs
dc.rights.access	openAccess
dc.subject	CCR, regulátor konstantního proudu, tester ETS-300, tester DTS2, C++, BASIC, hrotové měření čipů, krokovač EG2001, křemíková deska s čipy	cs
dc.subject	CCR, Constant Current Regulator, Tester ETS-300, Tester DTS2, C++, BASIC, unit probe, prober EG2001, silicon wafer with dice	en
dc.thesis.degree-branch	Řídicí a informační systémy	cs
dc.thesis.degree-grantor	Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta elektrotechniky a informatiky	cs
dc.thesis.degree-level	Bakalářský studijní program	cs
dc.thesis.degree-name	Bc.
dc.thesis.degree-program	Elektrotechnika	cs
dc.title	Konverze měření obvodů řady CCR z testeru DTS na ETS	cs
dc.title.alternative	CCR Circuit Series Measurements Conversion from DTS to ETS Testers	en
dc.type	Bakalářská práce	cs

Files

Original bundle

Now showing 1 - 4 out of 4 results

Name:: STA819_FEI_B2649_2612R041_2019.pdf
Size:: 3.45 MB
Format:: Adobe Portable Document Format
Description:: Text práce

Download

Name:: STA819_FEI_B2649_2612R041_2019_priloha.zip
Size:: 1.21 MB
Format:: Unknown data format
Description:: Příloha

Download

Name:: STA819_FEI_B2649_2612R041_2019_posudek_vedouci_Bilik_Petr.pdf
Size:: 57.31 KB
Format:: Adobe Portable Document Format
Description:: Posudek vedoucího – Bilík, Petr

Download

Name:: STA819_FEI_B2649_2612R041_2019_posudek_oponent_Bernkopf_Jaroslav.pdf
Size:: 76.9 KB
Format:: Adobe Portable Document Format
Description:: Posudek oponenta – Bernkopf, Jaroslav

Download

Collections

Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty elektrotechniky a informatiky / Theses and dissertations of Faculty of Electrical Engineering and Computer Science (FEI)