Objasnění příčin praskání vybraných bipolárních čipů tranzistorů TO 220 a vliv elektrostatického výboje na vznik zbytkového proudu TMOS struktur

Thumbnail Image

Downloads

Date issued

2002

Authors

Šmerda, Daniel

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Vysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava

Location

ÚK/Sklad diplomových prací

Signature

33101/9250

Abstract

Description

Import 20/04/2006

Subject(s)

Citation

Item identifier

http://hdl.handle.net/10084/44697

Collections

Vysokoškolské kvalifikační práce Fakulty elektrotechniky a informatiky / Theses and dissertations of Faculty of Electrical Engineering and Computer Science (FEI)