Fraktografie lomových ploch za použití rastrovací elektronové mikroskopie

dc.contributor.advisorKonečná, Kateřinacs
dc.contributor.authorKvapil, Tomášcs
dc.contributor.refereeVáňová, Petracs
dc.date.accepted2013-06-12cs
dc.date.accessioned2013-06-26T11:22:42Z
dc.date.available2013-06-26T11:22:42Z
dc.date.issued2013cs
dc.descriptionImport 26/06/2013cs
dc.description.abstractTato bakalářská práce pojednává o historii a vývoji skenovací elektronové mikroskopie, popis moderního mikroskopu, jeho princip a interakce elektronů s látkou. Další část je zaměřena na kvalitativní fraktografii, popis základních morfologických a fraktografických metod, mechanismy porušování a základní kategorie lomů.cs
dc.description.abstractThis thesis deals with history and development scanning electron microscope, the description of modern microscope, the principle and the interaction electrons with sample. Next part is focused on qualitative fractography, the description of main morfological and fractographycal methods, the failure mechanism and basic categories of fracture.en
dc.description.department636 - Katedra materiálového inženýrstvícs
dc.description.resultvýborněcs
dc.format.extent3302428 bytescs
dc.format.mimetypeapplication/pdfcs
dc.identifier.otherOSD002cs
dc.identifier.senderS2736cs
dc.identifier.thesisKVA096_FMMI_B3923_3911R028_2013
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10084/99430
dc.language.isocscs
dc.publisherVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostravacs
dc.rights.accessopenAccess
dc.subjectSkenovací elektronový mikroskop, sekundární elektrony, odražené elektrony, RTG záření, fraktografie, lomcs
dc.subjectScanning electron microscope, secondary electrons, backscattered electrons, X – ray, fractography, fractureen
dc.thesis.degree-branchDiagnostika materiálůcs
dc.thesis.degree-grantorVysoká škola báňská - Technická univerzita Ostrava. Fakulta metalurgie a materiálového inženýrstvícs
dc.thesis.degree-levelBakalářský studijní programcs
dc.thesis.degree-nameBc.cs
dc.thesis.degree-programMateriálové inženýrstvícs
dc.titleFraktografie lomových ploch za použití rastrovací elektronové mikroskopiecs
dc.title.alternativeFractography of fracture surfaces using scanning electron microscopyen
dc.typeBakalářská prácecs

Files

Original bundle

Now showing 1 - 3 out of 3 results
Loading...
Thumbnail Image
Name:
KVA096_FMMI_B3923_3911R028_2013.pdf
Size:
3.15 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
Loading...
Thumbnail Image
Name:
KVA096_FMMI_B3923_3911R028_2013_posudek_vedouci_Konecna_Katerina.PDF
Size:
688.72 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek vedoucího – Konečná, Kateřina
Loading...
Thumbnail Image
Name:
KVA096_FMMI_B3923_3911R028_2013_posudek_oponent_Vanova_Petra.pdf
Size:
295.96 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:
Posudek oponenta – Váňová, Petra