Spectroellipsometric characterization of materials for multilayer coatings

Autor
Datum vydání
2001
Typ dokumentu
article
Lokace
Není ve fondu ÚK
ISSN
0169-4332
Metadata
Zobrazit celý záznam
Citace zdrojového dokumentu
Applied Surface Science. 2001, vols. 175-176, p. 276-280.
Dostupné na
http://dx.doi.org/10.1016/S0169-4332(01)00163-5
URI
http://hdl.handle.net/10084/60827
Kolekce
Citace PRO