Teorie a užití optických mikrometrů

Abstract

Disertační práce obsahuje základní přehled současného stavu techniky pro měření výchylky v rozsahu milimetrů až mikrometrů. Součástí práce je vlastní test vybrané dvojice bezkontaktních mikrometrů pro měření profilu s kruhovým průřezem. V rámci disertační práce předkládám vlastní metodiku kalibrace měřicího systému, která má za cíl redukovat celkovou chybu měřicího systému. Metoda kalibrace kompenzuje vzájemnou polohu a natočení dvojice stínových mikrometrů v rovině pomocí afinní transformace a deformace výsledných zástupných bodů. Výsledkem je nalezení optimálního překrytí naměřených dat z dvojice stínových mikrometrů s nejistotou měření blížící se použití pouze jednoho mikrometru.

The presented dissertation thesis contains an essential overview state of the art deviation measurement in a range of millimeters to micrometers. Custom test of selected contactless micrometers to measure object's profile with a circular cross-section is a part of work is. In terms of the dissertation thesis, submit a custom calibration method of a measurement system, which has the main goal of reducing total measurement error. The calibration method compensates mutual position and rotation of shadow micrometers in a plane. The method uses affine transformation and deformation of resulting landmarks. The method's results are optimal overlap of measured data from micrometers with uncertainty closed to use only one micrometer.